介質(zhi)損耗測試儀   是發(fa)電(dian)廠、變(bian)(bian)電(dian)站等現(xian)場全自動測量各(ge)種(zhong)高(gao)壓(ya)電(dian)力(li)設(she)備(bei)介損正切值及電(dian)容量的(de)高(gao)精(jing)度儀器。主電(dian)源由儀器內部的(de)逆變(bian)(bian)器產生，經變(bian)(bian)壓(ya)器升壓(ya)后用(yong)于被試品(pin)測試。

產品簡介：

全(quan)自動變頻介質損耗測試(shi)儀是揚州科拓電(dian)氣科技有限公司成功研發(fa)出(chu)的新(xin)代(dai)的。隨著城鄉電網改造的不斷深入，變(bian)電站電壓等(deng)級越來越高，倒(dao)相法、移相法，已不能滿(man)足現場(chang)測試(shi)需求，變(bian)頻測量（變(bian)頻），把50HZ變(bian)成(cheng)其(qi)它頻(pin)率(lv)，可以(yi)排除(chu)干擾。但(dan)由于電子技術的限(xian)制，其(qi)變(bian)頻(pin)后的頻(pin)率(lv)般離50HZ有定距離，其50Hz條件下的電容值cx及tgδ值是換算(suan)模擬出來的，與真(zhen)實工頻測試有定的距離，尤(you)其對少數被(bei)試品(pin)，測出數據就(jiu)有明(ming)顯(xian)誤差，經過綜合比較，現(xian)研(yan)制種(zhong)新型介質損耗(hao)測量儀，其原理不改(gai)變頻率(lv)，能得到50HZ條件(jian)下(xia)電(dian)容值cx及tgδ值，提高測量(liang)可靠(kao)性和準確性，*抑(yi)制(zhi)電場干擾，滿(man)足(zu)電場下的(de)(de)使用要求。本(ben)儀(yi)器(qi)與(yu)計算機(ji)連接，使用強大的(de)(de)軟(ruan)件附件，對儀(yi)器(qi)升(sheng)級(ji)，人性化設計，全自動操作。本(ben)儀(yi)器(qi)適合700kv及以(yi)下電站有干擾現場的試驗。

技術參數：
1、抗干擾(rao)方(fang)式：變頻抗干擾(rao)。
2、測試方式(shi)：正接(jie)法測量、反接(jie)法測量內(nei)/外標準電容器、CVT和內/外試(shi)驗電壓(ya)進行測量(liang)。正接線可測量(liang)高壓(ya)介損。
3、儀器高壓輸出：0.5kV~10kV（每1kV檔）
4、電容測量范圍：Cx=30pF-40000PF，分辨率：0.1PF
 誤差：10kV時≤2000PF，2kV時≤60000PF，讀數×±1.0%±1PF
5、介質損耗因素測量范圍：tgδ：0.1%-10%,分辨率：0.0001誤 差：讀數×±1.0%±0.08%
6、頻率輸出：45Hz、50Hz、55Hz、55/65Hz、60Hz、65Hz
7、電源電壓：AC220V±10% 50Hz
8、使用環境：溫度-20℃~45℃ 濕度＜85%
9、外型尺寸：470×370×410
10、重 量：20kg