產品簡介:
變頻抗干擾介質損耗測試儀是揚州科拓電氣科(ke)技有限公司成功研發出的新代的介質損耗測試儀。隨著城鄉電網改造的不斷深入,變電(dian)站電(dian)壓(ya)等級越來越高,倒相法、移相法,已不能滿(man)足現(xian)場測試(shi)需求,變(bian)(bian)頻測量(變(bian)(bian)頻),把50HZ變(bian)成其它頻(pin)率(lv)(lv),可以排(pai)除干擾。但由于電子技術的限制,其變(bian)頻(pin)后的頻(pin)率(lv)(lv)般離(li)50HZ有(you)定距離,其50Hz條件(jian)下的電容值cx及tgδ值是換算模擬(ni)出來的,與真實(shi)工頻測試有定的距離(li),尤(you)其(qi)對少(shao)數被(bei)試品,測出數據就有明顯誤差,經過綜合比較,現(xian)研制種新型介質損(sun)耗(hao)測量儀,其(qi)原理不改變頻率(lv),能(neng)得到50HZ條件下(xia)電容值cx及tgδ值,提高(gao)測量(liang)可靠(kao)性(xing)和(he)準確性(xing),*抑制電場干擾,滿(man)足電場下的使用要求。本儀器與計(ji)算機連接,使用強(qiang)大的軟件(jian)附件(jian),對(dui)儀器升(sheng)級,人性(xing)化設計(ji),全(quan)自動操作。本儀器適(shi)合700kv及以下電(dian)站有(you)干擾現場(chang)的試驗。
變頻抗干擾介質損耗測試(shi)儀技(ji)術參數:
1、抗干(gan)擾(rao)方(fang)式(shi):變(bian)頻抗干(gan)擾(rao)。
2、測(ce)試方(fang)式(shi):正接法(fa)(fa)測(ce)量、反接法(fa)(fa)測(ce)量內/外標準電(dian)容器、CVT和(he)內(nei)/外試驗電壓進行(xing)測(ce)量(liang)。正(zheng)接線(xian)可測(ce)量(liang)高壓介損。
3、儀器高壓輸出:0.5kV~10kV(每1kV檔)
4、電容測量范圍:Cx=30pF-40000PF,分辨率:0.1PF
誤差:10kV時≤2000PF,2kV時≤60000PF,讀數×±1.0%±1PF
5、介質損耗因素測量范圍:tgδ:0.1%-10%,分辨率:0.0001誤 差:讀數×±1.0%±0.08%
6、頻率輸出:45Hz、50Hz、55Hz、55/65Hz、60Hz、65Hz
7、電源電壓:AC220V±10% 50Hz
8、使用環境:溫度-20℃~45℃ 濕度<85%
9、外型尺寸:470×370×410
10、重 量:20kg